走査型電子顕微鏡 検索結果に戻る

走査型電子顕微鏡

全表示 基本情報 電顕性能/機能 管理・運用情報 利用情報 成果記録

基本情報
設備番号 10005
設備名称 走査型電子顕微鏡
親設備番号
製造元 日本電子
設備大分類 顕微鏡・形態観察
設備小分類 走査型電子顕微鏡(SEM)
型式 JSM-6510A
製造年 2009
設置場所名称 共用機器センター２階
自由記述 二次電子検出器または反射電子検出器による試料表面の観察（EDS分析, Cryo-SEM観察可）
電顕性能/機能
最大加速電圧 30kV
最大倍率 300000
最大分解能 3nm
低温測定 あり
低真空観察 なし
ＸＭＡ 分散方式 エネルギー分散
最大試料サイズ 高さ 35mm
最大試料サイズ 幅/径 150mm
管理・運用情報
管理部局名 共用機器ｾﾝﾀｰ
管理体制
担当者名 荷堂清香
担当者外線電話番号 043-290-3810
担当者内線電話番号 3810
担当者メールアドレス s.kado[@]chiba-u.jp
稼働状況 稼働中
管理・運用に関する特記事項 稼働時間は週10～20時間程度、約2ヶ月ごとにフィラメント交換・調整、設備の状態は良好
利用情報
利用者測定の範囲 学内外
依頼測定の範囲 なし
利用に関する特記事項
設備NWへの登録 登録済
成果記録
論文情報 Electrochemical optical-modulation device with reversible transformation between transparent, mirror and black
自由記述 著者名：Araki, S., Nakamura, K., Kobayashi, K., Tsuboi, A. & Kobayashi, N. 巻号頁：24, OP122-OP126.
基本情報
設備番号 10005
設備名称 走査型電子顕微鏡
親設備番号
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製造元 日本電子
設備大分類 顕微鏡・形態観察
設備小分類 走査型電子顕微鏡(SEM)
型式 JSM-6510A
製造年 2009
設置場所名称 共用機器センター２階
自由記述 二次電子検出器または反射電子検出器による試料表面の観察（EDS分析, Cryo-SEM観察可）
電顕性能/機能
最大加速電圧 30kV
最大倍率 300000
最大分解能 3nm
低温測定 あり
低真空観察 なし
ＸＭＡ 分散方式 エネルギー分散
最大試料サイズ 高さ 35mm
最大試料サイズ 幅/径 150mm
管理・運用情報
管理部局名 共用機器ｾﾝﾀｰ
管理体制
担当者名 荷堂清香
担当者外線電話番号 043-290-3810
担当者内線電話番号 3810
担当者メールアドレス s.kado[@]chiba-u.jp
稼働状況 稼働中
管理・運用に関する特記事項 稼働時間は週10～20時間程度、約2ヶ月ごとにフィラメント交換・調整、設備の状態は良好
利用情報
利用者測定の範囲 学内外
依頼測定の範囲 なし
利用に関する特記事項
設備NWへの登録 登録済
成果記録
論文情報 Electrochemical optical-modulation device with reversible transformation between transparent, mirror and black
自由記述 著者名：Araki, S., Nakamura, K., Kobayashi, K., Tsuboi, A. & Kobayashi, N. 巻号頁：24, OP122-OP126.
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