電界放射型透過電子顕微鏡 （付属装置： FE-TEMクライオプローブ一式 ） 検索結果に戻る

電界放射型透過電子顕微鏡

全表示 基本情報 電顕性能/機能 管理・運用情報 利用情報 成果記録

基本情報
設備番号 10013
設備名称 電界放射型透過電子顕微鏡（付属装置：FE-TEMクライオプローブ一式）
親設備番号
製造元 日本電子
設備大分類 顕微鏡・形態観察
設備小分類 透過型電子顕微鏡(TEM)
型式 JEM-2100F
製造年 2010
設置場所名称 共用機器センター１階
自由記述 電界放出型電子銃を使い試料を透過した電子を用いた極微小領域の形状観察（電子回折像観察・STEM像観察・EDS分析可）
電顕性能/機能
最大加速電圧 200kV
最大倍率 1500000
最大分解能 0.1nm
低温測定 あり
低真空観察 なし
ＸＭＡ 分散方式 エネルギー分散
最大試料サイズ 高さ 未入力
最大試料サイズ 幅/径 未入力
管理・運用情報
管理部局名 共用機器ｾﾝﾀｰ
管理体制
担当者名 桝飛雄真
担当者外線電話番号 043-290-3810
担当者内線電話番号 3810
担当者メールアドレス masu[@]faculty.chiba-u.jp
稼働状況 稼働中
管理・運用に関する特記事項 稼働日は週3～5日程度、約2ヶ月ごとに鏡筒ベーキング、設備の状態は良好、専任職員による依頼測定実施中
利用情報
利用者測定の範囲 学内外
依頼測定の範囲 学内外
利用に関する特記事項
設備NWへの登録 登録済
成果記録
論文情報 Incarceration of (PdO)n and Pdn clusters via cage-templated synthesis of hollow silica nanoparticles
自由記述 著者名：Takao, K., Suzuki, K., Ichijo, T., Sato, S., Asakura, H., Teramura, K., Kato, K., Ohba, T., Morita, T. & Fujita, M. 巻号頁：Ed. 51, 5893–5896.
基本情報
設備番号 10013
設備名称 電界放射型透過電子顕微鏡（付属装置：FE-TEMクライオプローブ一式）
親設備番号
画像1
画像2 -
画像3 -
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製造元 日本電子
設備大分類 顕微鏡・形態観察
設備小分類 透過型電子顕微鏡(TEM)
型式 JEM-2100F
製造年 2010
設置場所名称 共用機器センター１階
自由記述 電界放出型電子銃を使い試料を透過した電子を用いた極微小領域の形状観察（電子回折像観察・STEM像観察・EDS分析可）
電顕性能/機能
最大加速電圧 200kV
最大倍率 1500000
最大分解能 0.1nm
低温測定 あり
低真空観察 なし
ＸＭＡ 分散方式 エネルギー分散
最大試料サイズ 高さ 未入力
最大試料サイズ 幅/径 未入力
管理・運用情報
管理部局名 共用機器ｾﾝﾀｰ
管理体制
担当者名 桝飛雄真
担当者外線電話番号 043-290-3810
担当者内線電話番号 3810
担当者メールアドレス masu[@]faculty.chiba-u.jp
稼働状況 稼働中
管理・運用に関する特記事項 稼働日は週3～5日程度、約2ヶ月ごとに鏡筒ベーキング、設備の状態は良好、専任職員による依頼測定実施中
利用情報
利用者測定の範囲 学内外
依頼測定の範囲 学内外
利用に関する特記事項
設備NWへの登録 登録済
成果記録
論文情報 Incarceration of (PdO)n and Pdn clusters via cage-templated synthesis of hollow silica nanoparticles
自由記述 著者名：Takao, K., Suzuki, K., Ichijo, T., Sato, S., Asakura, H., Teramura, K., Kato, K., Ohba, T., Morita, T. & Fujita, M. 巻号頁：Ed. 51, 5893–5896.
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