- 基本情報
-
| 設備番号 |
10157 |
| 設備名称 |
走査型電子顕微鏡 |
| 親設備番号 |
|
| 製造元 |
日本電子 |
| 設備大分類 |
顕微鏡・形態観察 |
| 設備小分類 |
走査型電子顕微鏡(SEM) |
| 型式 |
JSM-5410LV |
| 製造年 |
1996 |
| 設置場所名称 |
工学部４号棟３階 |
| 自由記述 |
|
- 電顕性能/機能
-
| 最大加速電圧 |
30kV
|
| 最大倍率 |
200000
|
| 最大分解能 |
4nm
|
| 低温測定 |
なし
|
| 低真空観察 |
あり
|
| ＸＭＡ 分散方式 |
なし
|
| 最大試料サイズ 高さ |
30mm
|
| 最大試料サイズ 幅/径 |
32mm
|
- 管理・運用情報
-
| 管理部局名 |
工学研究院 |
| 管理体制 |
学科・コース等:物質科学
講座・研究室等:松末・坂東研究室
|
| 担当者名 |
坂東弘之
|
| 担当者外線電話番号 |
043-290-3443 |
| 担当者内線電話番号 |
3443 |
| 担当者メールアドレス |
bando[@]faculty.chiba-u.jp |
| 稼働状況 |
休眠・故障中
|
| 管理・運用に関する特記事項 |
|
- 利用情報
-
| 利用者測定の範囲 |
講座・研究室のみ |
| 依頼測定の範囲 |
|
| 利用に関する特記事項 |
|
| 設備NWへの登録 |
未登録
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- 基本情報
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| 設備番号 |
10157 |
| 設備名称 |
走査型電子顕微鏡 |
| 親設備番号 |
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| 画像1 |
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| 画像2 |
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| 画像3 |
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| 画像4 |
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| 画像5 |
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| 製造元 |
日本電子 |
| 設備大分類 |
顕微鏡・形態観察 |
| 設備小分類 |
走査型電子顕微鏡(SEM) |
| 型式 |
JSM-5410LV |
| 製造年 |
1996 |
| 設置場所名称 |
工学部４号棟３階 |
| 自由記述 |
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- 電顕性能/機能
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| 最大加速電圧 |
30kV
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| 最大倍率 |
200000
|
| 最大分解能 |
4nm
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| 低温測定 |
なし
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| 低真空観察 |
あり
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| ＸＭＡ 分散方式 |
なし
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| 最大試料サイズ 高さ |
30mm
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| 最大試料サイズ 幅/径 |
32mm
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- 管理・運用情報
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| 管理部局名 |
工学研究院 |
| 管理体制 |
学科・コース等:物質科学
講座・研究室等:松末・坂東研究室
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| 担当者名 |
坂東弘之
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| 担当者外線電話番号 |
043-290-3443 |
| 担当者内線電話番号 |
3443 |
| 担当者メールアドレス |
bando[@]faculty.chiba-u.jp |
| 稼働状況 |
休眠・故障中
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| 管理・運用に関する特記事項 |
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- 利用情報
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| 利用者測定の範囲 |
講座・研究室のみ |
| 依頼測定の範囲 |
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| 利用に関する特記事項 |
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| 設備NWへの登録 |
未登録
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