- 基本情報
-
| 設備番号 |
10295 |
| 設備名称 |
高分解能ショットキー走査電子顕微鏡（FE-SEM） |
| 親設備番号 |
|
| 製造元 |
|
| 設備大分類 |
顕微鏡・形態観察 |
| 設備小分類 |
走査型電子顕微鏡(SEM) |
| 型式 |
SU3800SE |
| 製造年 |
2025 |
| 設置場所名称 |
共用機器センター１階 |
| 自由記述 |
・電子銃：ショットキー型、循環水冷却不要
・分解能：0.9nm @加速電圧30 kV、1.7 nm @加速電圧1kV（リターディング使用時）
・ドローアウト試料室、試料交換室併用
・サンプルサイズ：φ200 mm、重量2 kg
・モーターステージX：0～100 mm、Y：0～50 mm、Z：3～65 mm T：-20～＋90 deg
・検出器：二次電子検出器（SE）、反射電子検出器（BSE）、低真空二次電子検出器（UVD）
・付属装置等：エネルギー分散型X 線分析装置（EDS、Oxford、AZtecLive Standard UM65）
UVD-STEM ホルダー
画像解析ソフト ImagePro11-2D
|
- 電顕性能/機能
-
| 最大加速電圧 |
30kV
|
| 最大倍率 |
|
| 最大分解能 |
0.9nm
|
| 低温測定 |
|
| 低真空観察 |
あり
|
| ＸＭＡ 分散方式 |
エネルギー分散
|
| 最大試料サイズ 高さ |
未入力
|
| 最大試料サイズ 幅/径 |
200mm
|
- 管理・運用情報
-
| 管理部局名 |
共用機器ｾﾝﾀｰ |
| 管理体制 |
|
| 担当者名 |
桝 飛雄真
|
| 担当者外線電話番号 |
0432903810 |
| 担当者内線電話番号 |
3810 |
| 担当者メールアドレス |
cai-network@chiba-u.jp |
| 稼働状況 |
稼働中
|
| 管理・運用に関する特記事項 |
|
- 利用情報
-
| 利用者測定の範囲 |
学内外 |
| 依頼測定の範囲 |
なし |
| 利用に関する特記事項 |
|
| 設備NWへの登録 |
未登録
|
- 基本情報
-
| 設備番号 |
10295 |
| 設備名称 |
高分解能ショットキー走査電子顕微鏡（FE-SEM） |
| 親設備番号 |
|
| 画像1 |
|
| 画像2 |
-
|
| 画像3 |
-
|
| 画像4 |
-
|
| 画像5 |
-
|
| 製造元 |
|
| 設備大分類 |
顕微鏡・形態観察 |
| 設備小分類 |
走査型電子顕微鏡(SEM) |
| 型式 |
SU3800SE |
| 製造年 |
2025 |
| 設置場所名称 |
共用機器センター１階 |
| 自由記述 |
・電子銃：ショットキー型、循環水冷却不要
・分解能：0.9nm @加速電圧30 kV、1.7 nm @加速電圧1kV（リターディング使用時）
・ドローアウト試料室、試料交換室併用
・サンプルサイズ：φ200 mm、重量2 kg
・モーターステージX：0～100 mm、Y：0～50 mm、Z：3～65 mm T：-20～＋90 deg
・検出器：二次電子検出器（SE）、反射電子検出器（BSE）、低真空二次電子検出器（UVD）
・付属装置等：エネルギー分散型X 線分析装置（EDS、Oxford、AZtecLive Standard UM65）
UVD-STEM ホルダー
画像解析ソフト ImagePro11-2D
|
- 電顕性能/機能
-
| 最大加速電圧 |
30kV
|
| 最大倍率 |
|
| 最大分解能 |
0.9nm
|
| 低温測定 |
|
| 低真空観察 |
あり
|
| ＸＭＡ 分散方式 |
エネルギー分散
|
| 最大試料サイズ 高さ |
未入力
|
| 最大試料サイズ 幅/径 |
200mm
|
- 管理・運用情報
-
| 管理部局名 |
共用機器ｾﾝﾀｰ |
| 管理体制 |
|
| 担当者名 |
桝 飛雄真
|
| 担当者外線電話番号 |
0432903810 |
| 担当者内線電話番号 |
3810 |
| 担当者メールアドレス |
cai-network@chiba-u.jp |
| 稼働状況 |
稼働中
|
| 管理・運用に関する特記事項 |
|
- 利用情報
-
| 利用者測定の範囲 |
学内外 |
| 依頼測定の範囲 |
なし |
| 利用に関する特記事項 |
|
| 設備NWへの登録 |
未登録
|
