多目的X線回折装置 検索結果に戻る

基本情報
設備番号 10296
設備名称 多目的X線回折装置
親設備番号
製造元 Malvern Panalytlcal
設備大分類 X線回折・散乱
設備小分類 X線回折(XRD)
型式 Empyrean(エンピリアン)
製造年 2025
設置場所名称 共用機器センター1階
自由記述 ・管球:Cu 45kV−40mA 1800W
・検出器:1次元検出器1der(エネルギー分解能 380eV)
・プログラマブル入射ユニットiCore、受光ユニットdCore
・反射/透過回転ステージ
・付属装置等:Z 軸可変ステージ(薄膜、ブロック試料等測定用)
中低温チャンバー TTK600(-196〜600℃)
XRD性能/機能
X線発生出力(KW) 1.8KW
X線源 封入管
試料形態 粉末
試料保持方式
温度可変測定 あり
検出器 その他
応力/歪検出 なし
管理・運用情報
管理部局名 共用機器センター
管理体制
担当者名 桝 飛雄真
担当者外線電話番号 0432903810
担当者内線電話番号 3810
担当者メールアドレス cai-network@chiba-u.jp
稼働状況 稼働中
管理・運用に関する特記事項
利用情報
利用者測定の範囲 学内外
依頼測定の範囲 なし
利用に関する特記事項
設備NWへの登録 未登録
基本情報
設備番号 10296
設備名称 多目的X線回折装置
親設備番号
画像1
画像2 -
画像3 -
画像4 -
画像5 -
製造元 Malvern Panalytlcal
設備大分類 X線回折・散乱
設備小分類 X線回折(XRD)
型式 Empyrean(エンピリアン)
製造年 2025
設置場所名称 共用機器センター1階
自由記述 ・管球:Cu 45kV−40mA 1800W
・検出器:1次元検出器1der(エネルギー分解能 380eV)
・プログラマブル入射ユニットiCore、受光ユニットdCore
・反射/透過回転ステージ
・付属装置等:Z 軸可変ステージ(薄膜、ブロック試料等測定用)
中低温チャンバー TTK600(-196〜600℃)
XRD性能/機能
X線発生出力(KW) 1.8KW
X線源 封入管
試料形態 粉末
試料保持方式
温度可変測定 あり
検出器 その他
応力/歪検出 なし
管理・運用情報
管理部局名 共用機器センター
管理体制
担当者名 桝 飛雄真
担当者外線電話番号 0432903810
担当者内線電話番号 3810
担当者メールアドレス cai-network@chiba-u.jp
稼働状況 稼働中
管理・運用に関する特記事項
利用情報
利用者測定の範囲 学内外
依頼測定の範囲 なし
利用に関する特記事項
設備NWへの登録 未登録